Käynti Western Digitalilla: Miten huomisen tallennustila syntyy

Artikkelin kirjoittaja: Manu Pitkänen | 0 kommenttia

Sipulikin sen kertoisi



Kun viimeksi näin kairan, niin se oli tyypiltään maakaira. Nyt edessämme seisoi nanoluokan "kaira", jolla ei tosin pysty tekemään koloja. ESCAan verrattuna laite on herkempi. Kyseisen laitteen oikea nimi on lentoaikaerotteinen sekundääri-ionimassaspektrometri (ToF-SIMS), jonka avulla voidaan annetulta pinnalta löytää yksittäisiä molekyylikerrostumia. ToF-SIMS-laitteistossa “suihkutetaan primäärisiä ioneja suoraan päin näytettä, josta kimpoaa takaisin joukko pinnalle ominaisia sekundäärisiä ioneja." Erityisesti laitetta voidaan käyttää näytteessä olevien vierasperäisten aineiden jäljittämiseen Kuten ESCAn ja TEMin tapauksessakin, näytteiden tutkiminen pitää tapahtua äärimmäisen täydellisessä tyhjiössä.

“Kaira ampuu kultalähteestä tuotettuja ioneja kohti näytettä ja tutkii sitten pinnalta kimmonneita sekundäärisiä ioneja," kerrotaan WD:ltä. “Dataa syntyy varsin reippaasti tämän tapaisten laitteistojen kohdalla. Kaikilla analysaattoreilla on sekä hyvät että huonot puolet ja laitteiden päällekkäisellä käytöllä voidaan saada melko tyhjentäviä vastauksia. Kairan parhaimpana puolena voidaan pitää sen tuottamaa massaspektrometrista data, jolla voidaan hyvin tunnistaa vieraat yhdisteet sekä niiden lähteet. Kolikon kääntöpuolena on juuri sen tarkkuus, sillä sen avulla saadaan tietoa aineista joiden pitoisuus on vain miljardisosien luokkaa, jolloin vaaditaan taitoa löytää oleelliset tiedot epäoleellisten joukosta. Tulkinta onkin usein mittausmenetelmien hankalimpia asioita."

“Jos satuit hengittämään raskaasti näytettä kohti," kairan käytöstä vastaava insinööri sanoi ja jatkoi, että “voin todennäköisesti havaita sen." En usko atomitason mittauksen olevan tarpeellinen tällä kertaa, sillä olinhan syönyt juuri hetki sitten voileivän. Se oli kuitenkin lähimpänä vitsiä insinööreiltä kuulemistani letkautuksista koko päivän aikana.

Kommentoi artikkelia